测量厚度从15nm到100um的膜厚测量系统 SR20塑料测厚仪薄膜厚度测量仪可测15nm纳米 测量原理:基于光的干涉原理，通过分析从薄膜表面反射和从薄膜/基底界面反射的光的干涉图案来计算薄膜厚度。 非接触测量:不需要与样品接触，不会对样品造成损害，特别适合于测量软质材料或表面易受损的样品。 高精度:提供非常精确的测量结果，精度可以达到纳米级别。