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美国TA DIL 832 膨胀仪

简要描述:美国TA DIL 832 膨胀仪凭借以下令人印象深刻的技术和功能,DIL 832 成为所有研发实验室执行机械和尺寸特性表征的理想工具:TA 仪器删除 True Differential™ 技术、获得专有的 1 nm 分辨率光学编码器、一系列新型动态加热炉以及新款线性样品加载电机。打造业界性能优异的卧式推杆膨胀仪,不受被测应用或材料的影响。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新日期:2025-08-30
  • 访  问  量:16

详细介绍

美国TA DIL 832 膨胀仪
美国TA DIL 832 膨胀仪

凭借以下令人印象深刻的技术和功能,DIL 832 成为所有研发实验室执行机械和尺寸特性表征的理想工具:TA 仪器删除 True Differential™ 技术、获得专有的 1 nm 分辨率光学编码器、一系列新型动态加热炉以及新款线性样品加载电机。打造业界性能优异的卧式推杆膨胀仪,不受被测应用或材料的影响。

在 5000μm 总测量范围内,线性电机可确保 0.01 至 1.00 N 样品加载力,力解析度为 0.01 N,线性度优于 0.01 N。

获得专有的新型增量式光学编码器将长度测量的真实分辨率降至 1 nm,达到同类产品的优异水准。支持测量短小样品,同时保持优异 ∆L 分辨率。

应用新型设计的测量头外壳及有源电气热稳定性确保检测核心具备删除的稳定性。DIL 832 将 TA 仪器的删除 True Differential™ 技术与 TA 仪器加热炉的设计相结合,提供业界的 0.01 x 10-6 K-1 CTE 精确度。

DIL 832 自动记录初始样品长度,支持的删除/广泛样品长度为 25 mm,删除/广泛直径为 6 mm。

水冷炉提供动态性的温度编程功能,删除/广泛加热速率为 50 K/分钟,由 1000 °C 冷却至室温仅需 13 分钟,仅为同类仪器的 1/15。

集成电子元器件提供网络连接,而集成触摸屏允许用户直接在仪器中执行多项功能,实时显示测量参数和测试完成时间。

膨胀仪类型膨胀仪类型
样品尺寸长度/直径0 至 25 mm/12 mm
样品支架材质:熔融石英或, Al2O3
接触力:0.01 – 1.0 N
长度变化范围:5000 µm
分辨率 ∆L:1 nm,   0.05°C
精确度 (α):0.01 x 10-6 K-1
气体环境:真空、惰性气体、空气


具备质量流量控制器及真空装置的气体装置(选配)

温度范围:RT – 1100°C
RT – 1500°C
RT – 1700°C
加热速率50°K/min
冷却速率1100°C – RT: 短时间为 13 分钟
1500°C – RT: 不足一小时
1700°C – RT: 约一小时


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