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  • 半导体四探针电阻率测试仪方阻仪 可根据不同材料特性需要,有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜(ITO膜)、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。

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    产品价格:7800
    厂商性质:代理商
    更新日期:2024-04-24
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